单晶xrd检测平台-半导体研究所-香港---行政单晶xrd检测_广州其他分类

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单晶xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，单晶xrd检测实验室，以及行业应用技术开发。

x射线衍射仪的使用方法

（a）装填样品

按下衍射仪面板上的door按钮，指示灯闪烁、蜂鸣器发出报警声，缓慢的向右拉开衍射仪保护门。

将样品表面朝上安装到样品台上，此时注意尽可能的将样品置于载物台的中心位置。

向左轻拉右侧门，两门自动吸住后报警声停止。

（b）设置仪器参数

---桌面right measurement system图标，香港---行政单晶xrd检测，进入到软件控制界面

双击condition下面的1，进入到测量条件的设置界面，根据所测试样品要求，设置start angle（起始角）、stop angle（终止角）、scan speed（扫描速度）等参数（注意：一般扫描电压和扫描电流这些参数不要更改）

条件设置好以后，关闭条件设置界面，返回主界面（注意：在设置参数的时候，xrd的起始角一般是大于3°，终止角小于140°，否则会使测角仪的旋转臂撞到其他部件，使测角仪受到损坏。）

---browse按钮，进入到保存文件对话框，设置文件保存位置和样品名称后，返回主界面

（c）开始测试

在主界面上---executement，系统开始调整kv、ma值，此时弹出新的测量窗口，直到测量完成，测量数据自动保存在所设置为保存位置。

（d）数据存盘

一般为了防止u盘存在---，拷取实验数据需要光盘，下面是一个光盘流程

（e）关闭系统

在测试的时候根据实际情况，如果后面仍有学需要测试，在完成自己样品测试后，将自己的样品取出即可。如果没有人测试，则按照下面的流程来关闭x射线

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rir的取值问题

rir即当物相含量与标准物相含量相等时，两相的强度之比。由于pdf卡片数量逐年递增，因此，多数物相都可以通过pdf查到rir值。但是，单晶xrd检测平台，在实际操作中存在一些问题：

同一物相有多张pdf卡片与之对应，而且rir值不同

例如，mgzn2这种物相就有多张卡片与之对应，它们的结构相同，但是，rir值略有不同，如何正确地选择合适的rir值是定量计算的关键问题。一般来说，虽然有多张pdf卡片与被测相相对应，但实际上在衍射峰位置和衍射强度匹配上存在较小的差别，单晶xrd检测多少钱，因此，应当选择与实测物相较为吻合的pdf卡片，---是选择衍射强度匹配尽可能一致的卡片数据。

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锂离子电池由于其优异的储能特性，在移动通信、信息技术、消费电子和移动汽车等领域有着广泛的应用。为了开发新型高i性能碳阳极材料，xianfa rao等人[1]以聚为原料，在1050℃的高温进行下热解和碳化，制备了一种新型有机碳材料聚丙i烯腈（pan）硬质碳。首先将材料在温度条件为280℃于空气气氛下进行2小时的预氧化，而后将与氧化后的粉末于氮气气氛下以600-1050℃的温度区间进行碳化。在该温度下连续碳化30分钟，然后自然冷却至室温，将获得4pan硬质碳基材的将其材料进行xrd测试分析。

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