algan材料xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
不同晶粒度的同一物相,rir值相差很大
rir值实际上与物相的很多结构因素有关。晶粒大小是影响rir值的关键因素。如果被测物相是纳米晶粒,也按正常的rir值进行分数计算,则计算结果可能会与实际值相差很大。一般来说,algan材料xrd检测费用多少,晶粒越小,衍射峰高越低,则实际rir值越小,有时只有pdf卡片上的rir值的1/10。影响rir值的另一个因素是粉末的研磨程度。研磨越久,rir值会越小。
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x射线衍射仪(xrd)相关术语解释
步进扫描粉末衍射仪的一种工作方式(扫描方式)。试样每转动一步(固定的δθ)就停下来,测量记录系统开始测量该位置上的衍射强度。强度的测量也有两种方式:定时计数方式和定数计时方式。然后试样再转过一步,再进行强度测量。如此一步步进行下去,完成角度范围内衍射图的扫描。
用记录仪记录衍射图时,采用步进扫描方式的优点是不受计数率表rc的影响,没有滞后及rc的平滑效应,辽宁algan材料xrd检测,分辨率不受rc影响;尤其它在衍射线强度极弱或背底---时---有用,在两者共存时更是如此。因为采用步进扫描时,algan材料xrd检测多少钱,可以在每个θ角处作较长时间的计数测量,以得到较大的每步总计数,从而可减小计数统计起伏的影响。
步进扫描一般耗费时间较多,因而须认真考虑其参数。选择步进宽度时需考虑两个因素:一是所用接收狭缝宽度,步进宽度至少不应大于狭缝宽度所对应的角度;二是所测衍射线线形的尖锐程度,步进宽度过大则会降低分辨率甚至掩盖衍射线剖面的细节。为此,步进宽度不应大于尖锐峰的半高度宽的1/2。但是,也不宜使步进宽度过小。步进时间即每步停留的测量时间,若长一些,可减小计数统计误差,提高准确度与灵敏度,但将损失工作效率。
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原位xrd相对于非原位xrd的技术优势
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