河北xrd晶粒尺寸检测-半导体xrd薄膜测试

xrd晶粒尺寸检测xrd残余应力检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

ecv又名扩散浓度测试仪，结深测试仪等，即电化学cv法测扩散后的载流子浓度分布。电化学ecv可以用于太阳能电池、led等产业，是化合物半导体材料研究或开发的主要工具之一。电化学ecv主要用于半导体材料的研究及开发，其原理是使用电化学电容-电压法来测量半导体材料的掺杂浓度分布。电化学ecv(cv-profiler， c-v profiler)也是分析或发展半导体光-电化学湿法蚀刻(pec etching)---的选择。

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x射线衍射技术（xrd）在建筑材料检测中的应用

样品要求x射线衍射技术适用于多种类型产品的检测，送检样品可为粉末状、块状、薄膜、镀膜及其它形状。样品种类不同，具体要求也有所区别：

粉末样品需要量约为2g以上（视其密度和衍射能力而定），送检粉末样品需预先干燥并研磨至大于200目；

块状和薄膜样品要求宽度不小于1.5cm、厚度不大于0.5cm近似平面试样；

对于测量金属样品的微观应力（晶格畸变），测量残余奥氏体，要求制备成金相样品，并进行普通抛光或电解抛光，消除表面应变层；

若样品在空气中不稳定，xrd晶粒尺寸检测测试，会吸湿、风化、分解，则需采取保护隔离措施，若试样、、有毒，则应采取相应的防护措施。

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