半导体xrd测试机构-xrd小角度检测报告_广州其他分类

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如何在origin上标记xrd图上的星号

1、选中卡片，然后双击-->;弹出的文本框即为标准卡片信息，从中可以看到晶面间距d，晶面指数（hkl）以及标准衍射峰位2 theta等信息-->;选中export，可以将标准卡片中的信息导出为txt文件。

2、从txt中找到标准谱图所需要的信息：2 theta和i(f)值，然后将其copy到origin里面，设置2theta 为x轴数据，i(f)为y轴数据，如图2所示

3、选中a(x1)和b(y1)做折线图，并对谱图进行优化（线粗细：3.0，类型：b-spline; 坐标轴线粗细：3.0，字体大小：28），得到zno的xrd谱图

4、---菜单栏中graph-->;new layer(axe) -->;(linked) top x + right y，添加新图层。然后右键---“图层2”-->; layer content，将d(y2)添加为layer content

5、双击图层2中所出现的折线图，在弹出的plot o details菜单中，将plot type改为 scatter; ---右侧菜单中drop lines选项，勾选vertical，同时将线宽调整为3；再---symbol选项，xrd小角度检测报告，将size改为0

6、调整图层2的横坐标范围，使横轴范围与图层1一致；调整图层2的纵坐标范围，让标准卡片处于适合的位置；美化谱图，然后在图中注明标准卡片的编号

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●应力公式中不包含无应力衍射角2θ，给应力测试带来方便。

●式中偏导数项，实际是2θ与sin2ψ关系直线的斜率，采用小二乘法进行线形回归，求解出该直线斜率，代入应力公式中即可获得被测的三个应力分量。

为了获得x轴方向正应力σx，射线应在φ=0°情况下以不同ψ角照射试样，测试出各ψ角对应相同(hki)晶面的衍射角2θ值

为了获得y轴方向正应力σy，黑龙江xrd小角度检测，射线应在φ=90°情况下进行照射，测试出各ψ角对应的晶面衍射角2θ值。为了获得切应力分量txy，需要分别在φ=0°、45°及90°情况下进行测试。在每个入射方位角φ下，必须选择两个以上ψ角进行测试。所选择角ψ的数量，视具体情况而定。

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正如上面提到的，我们利用x射线衍射可以获得大量的关于薄膜的信息。在平常的测试中，我们获得的粉末衍射信号来自于平行于宏观平面的晶面信息。当我们测试薄膜时，必须要注意晶面的取向情况，xrd小角度检测服务，这时候需要调整x射线在样品的入射和反射的方向。

在通常的测试中一般是对称反射光路测试，但在有---取向的薄膜例如外延生长的薄膜时候，对称衍射并不合适。这时候我们就需要调整样品表面的倾斜来获得需要测试的晶面，我们称为非对称衍射。

有一种更为特殊的情况，当我们的晶面垂直于样品宏观平面生长时，也叫面内衍射，这些年随着测试技术的发展和仪器的精度越来越高，我们也可以实现对垂直于平面晶面进行表征。面内表征对于薄膜宽度方向的探究是非常重要的。

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