锂电xrd检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
“衍射强度”实际上的定义是积分强度。
从衍射图上看起来,就是衍射峰的面积。这里定义k值时,锂电xrd检测费用多少,却用了衍射峰的高度。它们之间能通用吗? 也许是通用的。但有一个前提条件:所有物相、所有衍射峰的峰形完全相同!主要的是衍射峰的宽度要相同。否则就会存在误差! 因为,衍射峰的面积是高度乘以宽度。仔细的人会发现,简单的面积计算公式是: 面积=峰高乘以半高宽 所谓半高宽就是指衍射峰一半高度处的宽度(fwhm)。 有的人会发现,用这个方法,计算出来的结果误差较大。这就是原因之一。不同的物相,不同的衍射角,衍射峰的宽度是不相同的。当然,如果样品中的物相晶粒都差不多,那么含量计算结果也差不多。 这里说的是差不多,不是说准确。因此,有人称之为“半定量”结果。
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首先,x射线衍射方法只能证明一个物相的存在,吉林锂电xrd检测,而不能证明一个物相的不存在。
这是因为,x射线衍射强度是一个样品表面信息的统计结果。当一个物相的含量低于某一下限值(1%-10%左右,不同物相不同)时,xrd方法是不能检定一个物相的存在的。因此,如果你还想问“我的样品中有0.3%的zr,锂电xrd检测实验室,为什么在om,tem或sem中可以看到它的存在,锂电xrd检测价格,为什么用xrd做不出来呢?”这样的问题,说明你对xrd还不了解。
其次,并不是有了jade就能一定分析出是什么物相。
jade是一个pdf卡片的检索程序,通过给定的条件从pdf卡片库中检索出“基本上符合条件的物相卡片”。但,这些卡片可能---不是你的样品中存在的物相,因为有些物相并没有相应的pdf卡片。这时候,jade就---为力了。这时,你多可以检索出与实际物相结构相近的卡片。
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细针状微晶粉末样品做 xrd 重复性很差。(制作粉末衍射样品片)怎么可以避免择优取向?
择优取向是很难避免的,只能尽力减少他的影响。
首先,你要讲样品磨得尽量细(但要适度,要注意样品的晶体结构不要因研磨过度而受到损坏);
不要在光滑的玻璃板上大---紧(压样时可以在玻璃板上衬一张粗糙的纸张),样品成形尽可能松一些;
制样过程中也可以掺一些玻璃粉,或加一些胶钝化一下样品的棱角。
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