xrd摇摆曲线检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
假如，我们所测量的样品是一个整个的块体，比如一块金属，也许---铸造出来。情况算是很幸运的了。但是，我们的材料往往是要经过加工的。比如拉、拔、压、轧等等。在这个加工的过程中，晶粒总是通过一定的滑移面滑移，加工程度越高，晶粒排列得越整齐有序。我们称这种现象为“择优取向”或存在“织构”。一旦样品中存在择优取向，所测量出来的衍射峰强度就不能与理论计算的(按完全无序)结果一致。你会发现，我们通常测量的衍射谱与pdf卡片上的强度比完全不对应。
也许强峰变成了不强的峰了，甚至弱到看不到了。你还怎么用“该物相的强峰”的强度来计算含量呢？也许有人会说，东方不亮西方亮，西藏自治xrd摇摆曲线检测，一个物相总会有一个强峰呀。但是，此强峰不是彼强峰啊。它与本来的强峰的衍射角、多重因子、结构因子等等都是不同的，是的！于是，xrd摇摆曲线检测分析，有人就想到了一个事情：“一个物相的总散射强度应当是不变的”。试图使用一定散射区内的全部衍射峰的强度来作为物相的衍射强度，当然，此时的rir值也要用此区域内的全部衍射峰强度来计算。这还算简单的想法，
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xrd测试分析下面通过一些问答形式给讲解物相定量分析的重点知识。
1、为什么不能做物相定量？
样品往往不是单一物相，因此，人们总想了解其中某种相的含量。人们的理解总是认为哪怕只是一种近似的结果也比没有结果要好。
为了要说明定量分析的问题，我们还是了解一下一张x射线衍射谱图中包含一些什么信息。这些信息主要有三个方面。也是三个方面的应用：
（1）衍射峰的位置
这方面的信息主要用于物相的鉴定、晶胞参数的精修、残余应力的测量。
（2）衍射峰的峰高或者面积，我们称之为强度
这方面的信息主要用于物相的含量、结晶度以及织构的计算。
（3）衍射峰的形状，我们称为线形
这方面的信息又包括两个方面。其一是衍射峰的宽度，我们可以用来计算亚晶尺寸的大小(常被称为晶粒大小)和微观应变的计算。另一个则是线的形状，主要是指峰形是否对称，这方面用来计算位错、层错等。不过，后者做的人少，研究也不是很完全，因此应用不是很广泛。
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任何一个检索程序都需要一定的“检索条件”，jade也不例外。
样品的衍射图谱本身就是基本的检索条件，但是，光有图谱是不够的，已知条件越多，则检索结果越准确。这里说的检索条件，用得的就是“元素”。
jade有三种选择。存在，不存在，可能存在。使用jade的人要真正地理解这三种情况的使用方法。在论坛里，有些人在求助帖中只给出一个图谱的数据，希望人家能帮助分析出准确的结果来。说实在的，人都不是，你不告诉人家任何条件，肯定是不能算出命来的。因此，不附加任何已知条件的图谱分析很多时候会闹出笑话来。
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