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xrd晶粒尺寸检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，xrd晶粒尺寸检测分析，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，xrd晶粒尺寸检测价格，以及行业应用技术开发。

一般人认为，通过x射线衍射方法就能了解样品中存在某些元素，其实这是一个误解。x射线衍射是一种结构分析手段，而不是元素分析手段，有很多物相虽然结构上也存在微小的差别，但是x射线衍射物相分析并不能真正区分它们。x射线衍射物相分析的目的应当是在已知样品元素组成的情况下检测这些元素的赋存状态。

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电子衍射和 xrd的区别

电子衍射是二维衍射和 xrd 是一维衍射，电子衍射和xrd的基本原理和衍射花样的几何特征相似，而且都遵循劳厄方程或布拉格方程。两者区别包括：

(1) 电子波的波长短，则受物质散射强（原子对电子的散射能比 x 射线强一万倍）；

(2) 电子衍射强度大，贵州xrd晶粒尺寸检测，要考虑它们之间的相互作用，使电子衍射花样分析，---是强度分析变得复杂，不能像 x射线一样从测量强度来广泛地测定晶体结构；

(3) 由于电子衍射强度高导---子穿透能力有限，因此较使用于研究微晶、表面和薄膜晶体；

(4) 当晶粒大小只有几微米，甚至几千埃的时候，不建议用 xrd 。

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