xrd物相分析检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
通常称为晶块尺寸或晶粒尺寸。计算晶块尺寸时,一般采用低角度的衍射线。但是,如果晶块尺寸较大,xrd物相分析检测费用多少,可用较高衍射角的衍射线。
使用谢乐公式计算晶粒尺寸时,若晶粒尺寸在30nm左右,xrd物相分析检测实验室,计算结果较为准确。此公式适用范围为size<100nm。判断一个样品是否存在晶粒细化的依据是:衍射峰宽化与衍射角的余弦成反比。
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x射线衍射仪(xrd)相关术语解释
sollar狭缝测角仪上一组平行薄金属片光阑,由一组平行等间距的、平面与射线源焦线垂直的金属薄片组成,用来---x射线在测角仪轴向方向的发散,使x射线束可以近似的看作仅在扫描圆平面上发散的发散束。
脉冲计数率在衍射仪方法中,x射线的强度用脉冲计数率表示,单位为每秒脉冲数(cps)。检测器在单位时间输出的平均脉冲数,直接决定于检测器在单位时间接收的光子数。如果检测器的效率为100%,而系统(放大器和脉冲幅度分析器等)又没有计数损失(漏计),xrd物相分析检测平台,那么每秒脉冲数便是每秒光子数。
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x射线衍射仪(xrd)相关术语解释
防散射狭缝测角仪上用来防止一些附加散射(如各狭缝光阑边缘的散射,光路上其它金属附件的散射)进入检测器,有助于减低背景。防散射狭缝是光路中的辅助狭缝,它能---由于不同原因产生的附加散射进入检测器。例如光路中空气的散射、狭缝边缘的散射、样品框的散射等等。此狭缝如果选用得当,可以得到低的背底,而衍射线强度的降低不超过2%。如果衍射线强度损失太多,则应改较宽的防散射狭缝。
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