xrd薄膜检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
x射线衍射仪(xrd)相关术语解释
步进扫描粉末衍射仪的一种工作方式(扫描方式)。试样每转动一步(固定的δθ)就停下来,测量记录系统开始测量该位置上的衍射强度。强度的测量也有两种方式:定时计数方式和定数计时方式。然后试样再转过一步,再进行强度测量。如此一步步进行下去,完成角度范围内衍射图的扫描。
用记录仪记录衍射图时,采用步进扫描方式的优点是不受计数率表rc的影响,安徽xrd薄膜检测,没有滞后及rc的平滑效应,分辨率不受rc影响;尤其它在衍射线强度极弱或背底---时---有用,在两者共存时更是如此。因为采用步进扫描时,可以在每个θ角处作较长时间的计数测量,以得到较大的每步总计数,从而可减小计数统计起伏的影响。
步进扫描一般耗费时间较多,因而须认真考虑其参数。选择步进宽度时需考虑两个因素:一是所用接收狭缝宽度,步进宽度至少不应大于狭缝宽度所对应的角度;二是所测衍射线线形的尖锐程度,步进宽度过大则会降低分辨率甚至掩盖衍射线剖面的细节。为此,步进宽度不应大于尖锐峰的半高度宽的1/2。但是,也不宜使步进宽度过小。步进时间即每步停留的测量时间,若长一些,可减小计数统计误差,提高准确度与灵敏度,但将损失工作效率。
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x射线衍射,通过对材料进行x射线衍射,分析其衍射图谱,xrd薄膜检测哪里可以做,获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。得益于同步辐射光源自身具有光子高通量以及更高的准直性等优点,xrd薄膜检测测试,往往会得到更多、---的衍射信号,这对后续的数据分析提供了更多的可能性。原位xrd作为一种xrd的衍生测试手段,可以---的解决非原位xrd测试过程中的诸多问题,目前已在锂离子电极材料测试中得到了---的运用,能够实时检测电极材料。
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x射线衍射仪(xrd)相关术语解释
位敏正比检测器衍射仪位敏正比检测器(pspc)是一种新型射线检测器。它不仅能进行粒子计数测量,而且通过与它配合的一套时间分析系统能够同时得到粒子进入检测器窗口的位置坐标。因此用pspc进行测量可以获得如用感光软片进行记录时同样丰富的信息。pspc得到的信息直接实时地由计算机系统进行处理,能立即得到实验结果。应用pspc已经成功地发展了一种新型的衍射仪——pspc衍射仪,它能对整个可测量范围内的衍射进行同时记录,是一种高速多晶衍射设备,---适用于---动态过程的衍射研究。
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