江苏锂电xrd检测-半导体xrd检测机构-锂电xrd检测报告

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    2023-7-27

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不能精修的原因与解决办法

选择精修命令后,有时会出现“unable to graft hkl’s to peaks”的提示。表明不能进行精修。其原因有两种:一是有些拟合的峰没有对应的(hkl)标记。例如,锂电xrd检测平台,测量铁素体的5条线,但检索pdf卡片只有前3条线,3条衍射线不能进行精修。二是衍射峰位相对于“选定结构 (标准卡片)”的峰位偏离太多。

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x射线衍射仪(xrd)相关术语解释

微区衍射仪

微区衍射仪是按平行光束型衍射几何设计的,使用特殊的大窗口闪烁检测器或环形窗口的正比检测器。工作时,检测器沿入射线方向移动,通过固定直径的环形狭缝对各衍射锥面的总强度依次地进行测量。由于它使用细平行光束,故能对样品的一个微区(直径可小至30μm)进行衍射分析。

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一般人认为,通过x射线衍射方法就能了解样品中存在某些元素,其实这是一个误解。x射线衍射是一种结构分析手段,而不是元素分析手段,有很多物相虽然结构上也存在微小的差别,但是x射线衍射物相分析并不能真正区分它们。x射线衍射物相分析的目的应当是在已知样品元素组成的情况下检测这些元素的赋存状态。

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