xrd薄膜检测-半导体xrd测试电话

xrd薄膜检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

x射线衍射仪的使用方法

（a）装填样品

按下衍射仪面板上的door按钮，指示灯闪烁、蜂鸣器发出报警声，缓慢的向右拉开衍射仪保护门。

将样品表面朝上安装到样品台上，xrd薄膜检测分析，此时注意尽可能的将样品置于载物台的中心位置。

向左轻拉右侧门，两门自动吸住后报警声停止。

（b）设置仪器参数

---桌面right measurement system图标，进入到软件控制界面

双击condition下面的1，进入到测量条件的设置界面，根据所测试样品要求，设置start angle（起始角）、stop angle（终止角）、scan speed（扫描速度）等参数（注意：一般扫描电压和扫描电流这些参数不要更改）

条件设置好以后，关闭条件设置界面，返回主界面（注意：在设置参数的时候，xrd的起始角一般是大于3°，终止角小于140°，否则会使测角仪的旋转臂撞到其他部件，使测角仪受到损坏。）

---browse按钮，进入到保存文件对话框，设置文件保存位置和样品名称后，返回主界面

（c）开始测试

在主界面上---executement，系统开始调整kv、ma值，此时弹出新的测量窗口，直到测量完成，测量数据自动保存在所设置为保存位置。

（d）数据存盘

一般为了防止u盘存在---，拷取实验数据需要光盘，下面是一个光盘流程

（e）关闭系统

在测试的时候根据实际情况，如果后面仍有学需要测试，在完成自己样品测试后，将自己的样品取出即可。如果没有人测试，则按照下面的流程来关闭x射线

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xrd薄膜检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，天津xrd薄膜检测，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

xrd常用于测试金属、非金属、无机材料和有一定结晶的高分子材料的物相分析。在样品测试形态上，一般为干燥的粉末，块体或者薄膜结构。

技术特点

常规测试中，xrd更多地被用于对材料进行物相定性分析，而对于物相结构的定量分析而言，xrd一般只能检测样品含量在1%以上的物相，准确度一般为1%的数量级。

需要注意的是，xrd不能通过直接测量衍射峰的面积来求物相的含量。因为对于xrd图谱而言，其测定的衍射强度是经过试样吸收之后表现出来的，这意味着衍射强度还与吸收系数有关，而吸收系数又依赖于物相浓度。所以要测某个物相的含量，首先必须明确衍射强度、物相含量和吸收系数之间的关系。

常规定量分析方法有：外标法、内标法、k值法、直接对比法、绝热法等。目前，xrd薄膜检测测试，做物相定量分析可以利用reitveld结构精修的办法进行数学处理得出各物相的具体含量。一般不用xrd来分析体相元素含量，通常是用它来分析不同结构的含量。与其他技术相比，xrd可以用来区分具有相同元素但不同物相的物质，如锐钛矿tio2和金红石tio2。

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