xrd掠入射(gixrd)检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
x射线衍射仪(xrd)相关术语解释
粉末衍射仪
粉末衍射仪是目前研究粉末的x射线衍射常用而又方便的设备。它的光路系统设计采用---光束型的衍射几何,一般使用普通的nai(tl)闪烁检测器或正比计数管检测器以电子学方法进行衍射强度的测量;衍射角的测量则通过一台精密的机械测角仪来实现。
测角仪
是粉末衍射仪上精密的机械部件,用来测量衍射角。
发散狭缝
测角仪上用来---发散光束的宽度。发散狭缝的宽度决定了入射x射线束在扫描平面上的发散角。
接收狭缝
测角仪上用来---所接收的衍射光束的宽度。接收狭缝是为了---待测角度位置附近区域之外的x射线进入检测器,它的宽度对衍射仪的分辨能力、线的强度以及峰高/背底比有着重要的影响作用。
欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多xrd掠入射(gixrd)检测~
xrd掠入射(gixrd)检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
rir的取值问题
rir即当物相含量与标准物相含量相等时,两相的强度之比。由于pdf卡片数量逐年递增,因此,多数物相都可以通过pdf查到rir值。但是,在实际操作中存在一些问题:
同一物相有多张pdf卡片与之对应,而且rir值不同
例如,mgzn2这种物相就有多张卡片与之对应,它们的结构相同,但是,rir值略有不同,如何正确地选择合适的rir值是定量计算的关键问题。一般来说,虽然有多张pdf卡片与被测相相对应,xrd掠入射(gixrd)检测价格,但实际上在衍射峰位置和衍射强度匹配上存在较小的差别,因此,应当选择与实测物相较为吻合的pdf卡片,---是选择衍射强度匹配尽可能一致的卡片数据。
欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多xrd掠入射(gixrd)检测~
xrd掠入射(gixrd)检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
样品成分的限定
样品元素限定是缩小检索范围的有效手段。因此,我们在进行x射线衍射物相分析之前应当先做样品的元素分析,只有这样,才能准确并且正确地检索出样品中的全部物相。
成分限定的要点是:
(1) 只选样品中的主要元素。
(2) 选择4个元素。当样品成分比较复杂,含有元素种类较多时,优先选择量多的元素,并且每次只选择不多于4个元素,否则,检索范围过大,会影响检索结果。
(3) 尝试非金属元素c,h,台湾xrd掠入射(gixrd)检测,o。有时,样品会发生吸潮、氧化、腐蚀,在按已知元素检索不出物相时,要考虑样品是否发生这种反应。
(4) 尝试不同的元素组合。由于衍射谱受固溶、择尤取向等影响,导致衍射峰位偏离正常位置或者峰强不匹配,在很多情况下,会有一些物相检索不出来,应当试探特定元素组合的存在。
当样品中元素种类太多时,检索结果可能不准确。因此,xrd掠入射(gixrd)检测实验室,应当反复检索几次,并对比几次的检索结果,然后才作出终的结论。
欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多xrd掠入射(gixrd)检测~
xrd掠入射(gixrd)检测实验室-半导体研究所由广东省科学院半导体研究所提供。广东省科学院半导体研究所坚持“以人为本”的企业理念,拥有一支高素质的员工队伍,力求提供---的产品和服务回馈社会,并欢迎广大新老客户光临惠顾,真诚合作、共创美好未来。半导体研究所——您可---的朋友,公司地址:广州市天河区长兴路363号,联系人:王小。
联系我们时请一定说明是在100招商网上看到的此信息,谢谢!
本文链接:https://tztz343535a1.zhaoshang100.com/zhaoshang/277357406.html
关键词: