半导体研究所----行政xrd小角度检测

xrd小角度检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

判断一个物相的存在与否有三个条件：

(1) 标准卡片中的峰位与测量峰的峰位是否匹配；

(2) 标准卡片的峰强比与样品峰的峰强比要大致相同；

(3) 检索出来的物相包含的元素在样品中必须存在。

jade物相检索的常用方法有：无i---检索法和限定条件检索法。其中可限定的条件包括：pdf卡片库、元素组合、设置检索焦点、单峰检索。另外，也可以对物相进行反查。

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xrd小角度检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

xrd图谱中某个衍射峰的峰高、峰宽和峰面积分别表示什么

首先要区别是什么物质的xrd图谱，比如单晶、多晶（粉末）等.

峰高：对多晶来说，峰高由同方向排列的晶面分布数量(texture)决定，即：若所有晶粒为同方向排列，则此时各个晶面的峰高要大于无规律排列的晶粒. 而同一图谱中不同峰高则是由每个峰对应的晶面数量决定.

另外，如果样品不为纯晶体，而同时存在非晶体的情况下，不同xrd图像同一位置角度对应的 峰高不同则反映了晶体成分的多少. 晶体化程度越高，相应的峰越高.

峰宽：一般分析多的数值是fwhm(半峰全宽). 峰宽受很多因素影响：从仪器角度说，因素为所用x射线的波长分布，即使是单色x射线也不完全只有确定波长； 从多晶样品角度说，fwhm和晶粒大小成反比，xrd小角度检测价格，即，晶粒直径越小对应的fwhm越大，xrd小角度检测多少钱， 具体计算可以参考scherrer equation.

峰面积：也称为integral intensity. 这个值同样不是由某单一值决定，和样品本身相关的量有：该峰对应晶面的数量，晶胞体积，晶粒体积，structure factor等.

以上只是粗略说明，具体情况还是需要具体分析.