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xrd常用于测试金属、非金属、无机材料和有一定结晶的高分子材料的物相分析。
工作原理
xrd是一种利用x射线在晶体材料中的衍射效应来分析材料结构的技术。每种晶体材料都有其特定的结构参数,包括晶格类型、晶面间距和其他参数。不同的结构参数导致不同的x射线衍射图案。因此,xrd晶粒尺寸检测分析,可以通过测量衍射图案中的衍射角位置(峰值位置)来进行化合物的定性分析,并且可以通过测量谱线的积分强度(峰值强度)来进行定量分析。
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xrd分析与xrf分析的异同
1,用途不同。xrd是x射线衍射光谱,(x-ray diffraction ---ysis)是用于测定晶体的结构的,而xrf是x射线荧光发射谱,(x-ray fluorescence ---ysis)主要用于元素的定性、定量分析的,一般测定原子序数小于na的元素,定量测定的浓度范围是常量、微量、痕量。
2,原理上的差别:xrd是以x射线的相干散射为基础,以布拉格公式2d sinθ=nλ、晶体理论、倒易点阵厄瓦尔德图解为主要原理的;
xrf则是以莫斯莱定律(1/λ)1/2=k(z-s),k,s是与线性有关的常数。因此,得出不同元素具有不同的x射线(即特征线)为基础对元素定性、定量分析的。
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xrd图谱显示石墨样品显示出两个主要衍射峰(2θ=26.36和44.32?), 晶格间距分别为3.38?和2.04?。对于pan硬质碳样品,还观察到两个主要的宽而---的xrd衍射峰,表明pan硬质碳具有低结晶度的无定形结构。随着炭化温度的升高,衍射峰向小角度移动。对于碳化温度为1050℃样品,在24.78和43.29处的衍射峰观察到晶格间距分别为3.59 ?和2.09?。与石墨相比,pan硬碳的衍射角较小,相应的层间距较大,层间距相较于石墨变宽,为嵌入和去除锂离子提供了宽敞的通道。将所得pan硬质碳用作锂离子电池的负极材料,其初始容量为343.5 mah g?1,与石墨电极(348.6 mah g–1)的初始容量相等,初始库仑效率比石墨电---。并且pan硬碳电极在不同电流速率下表现出优异的循环稳定性和倍率性能。
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