xrd物相分析检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
xrd测试作为常用测试之一,但仍有许多同学不太了解,
jade 是分析xrd数据的常用软件之一。使用jade 进行xrd物相分析的主要环节,包括:“文件导入--扣除背底--(平滑)--检索”。
方法一:直接将需要分析的文件拖向mdi-jade的图标,即可打开。
方法二:依次--- “file -- read -- 选择要分析的文件 -- 打开”即可。
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并不是有了jade就能一定分析出是什么物相
jade是一个pdf卡片的检索程序,通过给定的条件从pdf卡片库中检索出“基本上符合条件的物相卡片”。但,这些卡片可能---不是你的样品中存在的物相,因为有些物相并没有相应的pdf卡片。这时候,jade就---为力了。这时,xrd物相分析检测分析,你多可以检索出与实际物相结构相近的卡片。
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x射线衍射仪(xrd)相关术语解释
转靶式管
这种管采用一种特殊的运动结构以---增强靶面的冷却,即所谓旋转阳极x射线管,是目前实用的高强度x射线发生装置。管子的阳极设计成圆柱体形,xrd物相分析检测哪里可以做,柱面作为靶面,阳极需要用水冷却。工作时阳极圆柱以高速旋转,这样靶面受电子束轰击的部位不再是一个点或一条线段而是被延展成阳极柱体上的一段柱面,使受热面积展开,从而有效地加强了热量的散发。所以,宁夏回族自治xrd物相分析检测,这种管的功率能远---过前两种管子。对于铜或钼靶管,xrd物相分析检测服务,密封式管的额定功率,目前只能达到2 kw左右,而转靶式管可达90 kw。
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结构精修通常分为两个步骤:先通过标准样品的测量,校正仪器精度;然后通过被测样品的峰位进行晶胞参数的修正。
仪器角度校正
选用标准硅样品,用与被测样品相同的实验条件测量标准样品的全谱。校正仪器角度误差。具有步骤为:
(1) 对标准样品的衍射谱进行物相检索、扣背景和kα2、平滑、全谱拟合后,选择菜单“---yze-theta calibration f5”命令,在打开的对话框中单击calibrate,显示出仪器的角度补正曲线(即仪器角度误差随衍射角的变化曲线)。
(2) 单击“save curve”命令,将当前角度补正曲线保存起来。
(3) 选中“calibrate patterns on loading automatically”。这样,当被测样品的衍射图谱调入时jade自动作角度补正(仪器角度误差校正)。
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