半导体xrd物相分析-锂电xrd检测

锂电xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，锂电xrd检测，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

一般来说，在强度表示中，有3个主要的问题：

(1) 通过寻峰操作得到的峰高和面积数据有时---确，但是，若衍射谱中存在重叠峰则会使计算值偏高。

(2) 拟合面积较为准确，可解决重叠峰的问题，但拟合峰高一般有偏差。

(3) 当物相的晶粒度不同时，用峰高还是用面积来表示强度并不等价，它们受衍射峰宽度的影响。

实际操作中，通常分别使用4种强度数据进行计算，再将计算结果作平均，可得到较为理想的结果。但是，如果重叠峰---多时，可只选用拟合数据，而当样品中无重叠时，使用寻峰数据计算反而会。

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解决的办法通常有3种：

(1) 换一张卡片试试

所谓结构精修，即以的某种物相结构为“初始值”进行反复地迭代修正，逐步逼近测量峰的位置。当所选卡片的峰位与测量峰位偏离太多时，因为“初始值”离真实值太远了，无法精修下去。如换张卡片，也就是改变初始值，锂电xrd检测服务，则更容易精修。因为，换卡片只是改变初始值，所以并不影响精修的结果。

(2) 选择all sible reflecti

如果样品为单相，则可以不进行物相检索，在寻峰或拟合后直接选用全部衍射峰进行精修。另外，有时虽然unable to graft hkl‘s to peaks，但还是出现了精修的界面，选择all sible reflecti进行精修是可行的。

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