单晶xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
指标化的过程是:对衍射谱寻峰或者拟合后,选择菜单命令“---pattern indexing”,出现指标化的对话框,然后,单击go工具,会出现一个“待选结构”列表。后从列表中选择出一种正确的结构。
例如,al合金的高温衍射,原子受热影响,晶胞膨胀较大,使实测峰与pdf卡片衍射线位置相差较大,无法直接精修,必须先做指数标定。指数标定后会显示一个可能的指标化结果的列表,当选择某一行时,会在主窗口显示该组指标对应的峰。注意观察选定的结构与实测谱是否一致。选择正确的指标化结果后就可进行结构精修,并能得到满意的结果。
总之,jade的功能非常---,界面友好,容易上手。但在使用过程中要注意方法和技巧,单晶xrd检测多少钱,才能得到满意的分析结果。
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一般人认为,北京单晶xrd检测,通过x射线衍射方法就能了解样品中存在某些元素,单晶xrd检测哪里可以做,其实这是一个误解。x射线衍射是一种结构分析手段,而不是元素分析手段,有很多物相虽然结构上也存在微小的差别,但是x射线衍射物相分析并不能真正区分它们。x射线衍射物相分析的目的应当是在已知样品元素组成的情况下检测这些元素的赋存状态。
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同时存在晶粒细化与微应变
令k=1,作图,用小二乘法作直线拟合,则从直线的斜率可求出微观应变;而直线在纵坐标上的截距即为晶块尺寸的倒数。
晶粒尺寸与微观应变计算时应当注意的问题
首先,应当正确地判断样品的衍射峰宽化的原因。jade采用作图法,如果数据点基本上是在一条水平线附近,则应当只有晶粒细化的因素存在;若数据点保持在一条斜线附近,单晶xrd检测费用多少,则表明有微应变存在。此时应进一步判断是否除微应变外是否还存在晶粒细化。
其次,测量前应当制作相应的仪器宽度曲线。测量仪器宽度曲线的样品应当是粗晶粒且无应变的粉末样品。仪器宽度曲线的测量应当与样品的测量条件相同。不同的测量条件可能导致不同的仪器宽度变化规律。
后,合适的拟合条件也是很重要的,不同的拟合参数可能会得到不同的计算结果。
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