xrd薄膜检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
判断一个物相的存在与否有三个条件:
(1) 标准卡片中的峰位与测量峰的峰位是否匹配;
(2) 标准卡片的峰强比与样品峰的峰强比要大致相同;
(3) 检索出来的物相包含的元素在样品中必须存在。
jade物相检索的常用方法有:无i---检索法和限定条件检索法。其中可限定的条件包括:pdf卡片库、元素组合、设置检索焦点、单峰检索。另外,也可以对物相进行反查。
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不同晶粒度的同一物相,xrd薄膜检测多少钱,rir值相差很大
rir值实际上与物相的很多结构因素有关。晶粒大小是影响rir值的关键因素。如果被测物相是纳米晶粒,也按正常的rir值进行分数计算,则计算结果可能会与实际值相差很大。一般来说,晶粒越小,衍射峰高越低,则实际rir值越小,有时只有pdf卡片上的rir值的1/10。影响rir值的另一个因素是粉末的研磨程度。研磨越久,rir值会越小。
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jade将衍射峰宽度大于3°的峰为非晶峰。通过衍射图谱的拟合,可以直接得到样品的结晶度。
在计算结晶度时,同一系列的样品,应当选择相同的衍射角范围。
正确地分离晶相峰和非晶峰往往比较困难,比较容易实现的方法是只用jade的“手动拟合”命令,而不使用自动拟合命令。拟合过程中,拟合的好坏并不能真实地从“r值”上表现出来,内蒙古自治xrd薄膜检测,而应当仔细观察“误差放大线”的水平程度和光滑程度,越平越越光滑表明拟合得越好。不断地在不平直和不光滑的位置加入新的峰并进行拟合,终将得到一条拟合佳的曲线。
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