xrd残余应力检测xrd残余应力检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
x射线衍射技术(xrd)在建筑材料检测中的应用
样品要求x射线衍射技术适用于多种类型产品的检测,送检样品可为粉末状、块状、薄膜、镀膜及其它形状。样品种类不同,具体要求也有所区别:
粉末样品需要量约为2g以上(视其密度和衍射能力而定),送检粉末样品需预先干燥并研磨至大于200目;
块状和薄膜样品要求宽度不小于1.5cm、厚度不大于0.5cm近似平面试样;
对于测量金属样品的微观应力(晶格畸变),测量残余奥氏体,要求制备成金相样品,并进行普通抛光或电解抛光,消除表面应变层;
若样品在空气中不稳定,会吸湿、风化、分解,则需采取保护隔离措施,若试样、、有毒,则应采取相应的防护措施。
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半导体是许多工业整机设备的,普遍应用于计算机、消费类电子、网络通信、汽车电子等领域。半导体主要由四个组成部分组成:集成电路(约占81%),光电器件(约占10%),分立器件(约占6%),传感器(约占3%),因此通常将半导体和集成电路等价。集成电路按照产品种类又主要分为四大类:微处理器(约占18%),存储器(约占23%),逻辑器件(约占27%),模拟器件(约占13%)。
近年来,由于美国“卡脖子”的影响,半导体产业收到了越来越多的关注,得益于新能源汽车、物联网、5g等新技术的开发和应用,半导体产业迎来了新的黄金发展期,受到了资本---,也促进了行业交流。
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不同x射线残余应力测定方法的原理与应用
(1) sin2ψ法可以采用选取较大的ψ范围和较多的ψ站数进行残余应力测定,从而提高测试精度。cosα法采用单次---,ψ范围不够---造成较大的测量误差,具有局限性,有待于进一步完善。
(2)在基于sin2ψ法原理的测量方法中,与同倾法相比,侧倾法具有明显的性。在被测点所处空间条件允许的前提下,香港---行政xrd残余应力检测,应尽量采用侧倾法。对于某些零件的沟槽部位的残余应力测定,通常采用同倾法。
(3) 在残余应力的计算方法中,可真应变法。
(4) sin2ψ法作为一种标准的方法,ψ角的设置好采用sin2ψ值等分法,尽量多选择几个ψ角进行测量。
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