xrd晶粒尺寸检测哪里可以做-半导体xrd测试机构

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由于材料存在织构，其sin2ψ曲线呈震荡型，选取的ψ角范围不同，得到的拟合直线的斜率和残余应力存在明显差异。在未知材料是否存在织构、晶粒是否粗大的情况下，不可选取较小的ψ范围和较少的ψ站数进行残余应力测定，否则会带来较大的测量误差。

对于sin2ψ曲线呈震荡型的织构材料，采用线性拟合未必是合理的，实际测量过程中，人们通常采用线性拟合的方式对这种震荡和测量误差引起的波动进行处理。关于ψ的范围，大达45°也未必合理，如果可以忽略穿透---的影响，采用的ψ角会更有利于获得较为正确的结果。

对于粗晶粒材料或存在织构的材料而言，尽量扩大ψ角的设置范围，可以通过±ψ角的测量来消除ε-sin2ψ非线性分布的影响。对于小二乘法拟合回归直线而言，若自变量的间距越大(ψ范围越大)，xrd晶粒尺寸检测分析，测量的数据越多(ψ站数越多)，则拟合所得到的直线的准确度越高，测试得到的数值就越---。也可以通过增加x射线的照射面积，或是采用摆动法增加参与衍射晶粒的数量来提高测试精度。