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●当材料中存在单向拉应力时,平行于应力方向的(hki)晶面间距收缩减小(衍射角增大)
●垂直于应力方向的同族晶面间距拉伸增大(衍射角减小)
●其它方向的同族晶面间距及衍射角则处于中间。●当材料中存在压应力时,其晶面间距及衍射角的变化与拉应力相反。材料中宏观应力越大,不同方位同族晶面间距或衍射角之差异就越明显,这是测试宏观应力的理论基础。●由于x射线穿透---较浅(约10μm),材料表面应力通常表现为二维应力状态,法线方向的应力(σz)为零。φ及ψ为空间任意方向op的网个万位用,εφψ为材料沿op方向的弹性应变,σx及σy分别为x及y方向正应力。此外,xrd掠入射(gixrd)检测实验室,还存在切应力τxy
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薄膜厚度和界面结构的测定随着纳米材料的高速发展,纳米薄膜的研究也变得越来越重要。利用xrd研究薄膜的厚度以及界面结构也是xrd发展的一个重要方向。通过二维xrd衍射还可以获得物相的纵向---剖析结果,也可以获得界面物相分布结果。物质状态的鉴别不同的物质状态对x射线的衍射作用是不同的,因此可以利用x射线谱来区别晶态和非晶态。一般非晶态物质的xrd谱为一条直线,xrd掠入射(gixrd)检测测试,平时所遇到的在低2θ角出现的漫散型峰的xrd一般是由液体型固体和气体型固体所构成。
晶体物质又可以分为微晶和晶态,微晶具有晶体的特征,但由于晶粒小会产生衍射峰的宽化弥散,而结晶好的晶态物质会产生尖锐的衍射峰。
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残余应力是类内应力的工程名称。残余应力在工件中的分布一般是不均匀的,而且,残余应力会对工件的静强度、疲劳强度、形状尺寸稳定性和耐蚀性等会产生---的影响。因此,残余应力的测定非常重要。
残余应力测定方法可分为有损检测法和无损检测法。有损检测法是通过机械加工的方式将被测工件的一部分去除,局部残余应力得到释放从而产生相应的应变和位移,根据相关力学原理推算工件的残余应力。常用的有损检测方法有钻孔法与环芯法。无损检测法是利用残余应力会引起材料中某一物理量(如晶面间距、超声波在材料中的传播速率或磁导率)的变化,福建xrd掠入射(gixrd)检测,通过建立此物理量与残余应力之间的关系,测定相关物理量从而计算出残余应力。常用的无损检测方法有x射线衍射法、中子衍射法、磁性法与超声法,其中,x射线衍射法因其原理较为成熟、方法较为完善,是目前在---应用为广泛的方法,其测试设备也越来越完善,既有功能齐全的实验室仪器,也有适用于现场测量的便携式仪器,还有适于特殊场合的检测装置。
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