锂电xrd检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,锂电xrd检测费用多少,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
如何由xrd 图谱确定所做的样品是准晶结构?xrd 图谱中非晶、准晶和晶体的结构怎么严格区分?
三者并无严格明晰的分界。
在衍射仪获得的 xrd 图谱上,如果样品是较好的晶态物质,图谱的特征是有若干或许多个一般是彼此独立的很窄的尖峰(其半高度处的2θ宽度在 0.1°~0.2°左右,江西锂电xrd检测,这一宽度可以视为由实验条件决定的晶体衍射峰的小宽度)。如果这些峰明显地变宽,则可以判定 样品中的晶体的颗粒尺寸将小于 300nm,可以称之为微晶。晶体的 x 射线衍射理论中有一个scherrer公式:
可以根据谱线变宽的量估算晶粒在该衍射方向上的厚度。
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(1)每一个物相的衍射强度,这倒不难,我们可以从衍射图上量出来。
(2)每一个物相的k值,这个k从何而来呢? 这里的k值是这样一个定义:用某种纯物质x与α al2o3按重量比1:1混合均匀,测量两者的衍射强度之比。
这里的“衍射强度”被定义为峰的高度(不是面积)。 这个比值称为x物相的k值。这个k值只与物相结构有关,锂电xrd检测价格,因此可以被写入pdf卡片。现在的电子版pdf卡片上有这样一个数据:i/ic(rir)=yyy。因此,我们也称为rir值,其中i是卡片所列物相的强线的峰高,而ic是刚玉(α-al2o3,锂电xrd检测多少钱,corundum)强线的峰高。
我们已经给出了这个方法的标准,就是这么定义的。 这样一来,定量分析就变得如此简单!扫描一遍样品的衍射谱,从图上量出每个物相的衍射峰的峰高,再从pdf卡片上查出每个相的rir值,就可以轻松地计算出全部物相的含量来。 真的,事实上,就是这么简单。你自己就可以做。再也不必求别人!。 这就是所谓的“绝热法”。绝热的意思是不再需要标样,因为样品中每一个物相的k值都已经知道,不需要与样品外的打交道。
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(用 x 射线衍射仪)做 x 射线衍射时,一些(仪器)参数对谱线有什么影响?
如何选择仪器参数主要取决于做 x 射线衍射的目的。比如:扫描速度,如果是一般鉴定就可以取快一些(4-8 度/分),如果是精修晶胞参数就要扫慢一些;狭缝条件,狭缝越小分辨率越高,但强度就会减小,不宜快扫,这又要增---间。
还要根据的样品的衍射能力、结晶 度等因素来定。如果是步进扫描:测定晶胞参数可以取每个步进度 1-30 秒,如果做结构精 测 30 秒到数分钟不等(对于普通功率的衍射仪,40kv、40ma)。
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