xrd残余应力检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
假如，我们所测量的样品是一个整个的块体，比如一块金属，也许---铸造出来。情况算是很幸运的了。但是，我们的材料往往是要经过加工的。比如拉、拔、压、轧等等。在这个加工的过程中，晶粒总是通过一定的滑移面滑移，加工程度越高，晶粒排列得越整齐有序。我们称这种现象为“择优取向”或存在“织构”。一旦样品中存在择优取向，所测量出来的衍射峰强度就不能与理论计算的(按完全无序)结果一致。你会发现，我们通常测量的衍射谱与pdf卡片上的强度比完全不对应。
也许强峰变成了不强的峰了，甚至弱到看不到了。你还怎么用“该物相的强峰”的强度来计算含量呢？也许有人会说，东方不亮西方亮，一个物相总会有一个强峰呀。但是，此强峰不是彼强峰啊。它与本来的强峰的衍射角、多重因子、结构因子等等都是不同的，是的！于是，有人就想到了一个事情：“一个物相的总散射强度应当是不变的”。试图使用一定散射区内的全部衍射峰的强度来作为物相的衍射强度，当然，此时的rir值也要用此区域内的全部衍射峰强度来计算。这还算简单的想法，
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影响k值的因素有什么？
除了定义上的因素外，还有这么一些问题是要考虑的：
首先，晶粒大小的影响。比如，你在做的是纳米晶粒样品，也套用这个k值，误差会很大。我曾试过一个物相不同晶粒的k值，结果相差有多大，---无法相象，xrd残余应力检测实验室，真的差了10倍！这个10倍是要直接用于公式里的分母的。结果会怎么样呢？
其次，化学成份的影响。很多物相都不能算做纯物相，比如某种合金的固溶体，宁夏回族自治xrd残余应力检测，某种蒙脱石。虽然，他们的晶体结构大体上还是没有变化，但它的k值却变了。据分析，xrd残余应力检测哪里可以做，不同成分的固溶体，比如al中可以溶解一些其它元素如zn，mg等，不同固溶度下的al固溶体的k值肯定是不同的。对于合成样品，化学成分的微小差别也会影响k值。不同地域的蒙脱石，其k值可以相差很大。
再次，颗粒度。这里不是说晶粒度，xrd残余应力检测多少钱，而是说粉末的粒度。也是影响因素之一。
影响k值的还有晶体的结构，原子的占位与掺杂。
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我们为什么能利用衍射谱来做物相的含量分析呢？
其原理就是基于物相的含量w与该物相的衍射强度成正比。
可以简单地写成w=ci。ｗ是物相的分数，ｉ是该物相的衍射强度。ｃ是一个系数，但不是一个常系数。不过，在一定条件下它是一个常数。---的是，这个常数通常不能通过理论计算得出，而是需要通过实验来测量。每当实验条件改变(包括样品中的物相种类的改变、任一物相含量的改变、观察峰的改变、甚至于物相产地改变、所用辐射改变、晶粒尺寸改变……如此等等，不一而足)这个系数是变化的。
围绕如何想办法得到这个系数ｃ，历代的---和小师推导出了十几种具体的测量方法。而这些方法又是在某种环境下能使用在另一种环境下不能使用的。每种方法的不同要求等于给实验方法本身加上了一把锁，使得人们不能真正好好地、简便地利用它。
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