半导体xrd研究所-xrd晶粒尺寸检测实验室

xrd晶粒尺寸检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

微区xrd可以测试某个区域的xrd谱图，但是测试区域需要大于等于0.5 mm，不能太小。另外测试角度范围默认是5-90 °，其他角度需要先和老师沟通后再做决定。比如需要测试块体样品（尺寸要求是长宽一般1-2 cm，厚度不超过5 mm)上面某一个或一些小区域的xrd，就可以用微区xrd来测试。

微区xrd原理跟一般xrd一样，只是beam很小是微米级，因此可以准确研究不同区域内的晶相结构。微区xrd的x射线束斑更小些(这个通过调节狭缝可以实现)。而一般的xrd的束斑面积在几十个微米见方。微区衍射可以应用于许多衍射研究，xrd晶粒尺寸检测平台，包括以下表征:样品上具有---梯度成份的小斑点，例如，污染物、夹杂物、矿物样品、---样品、古代绘画的微小横截面、考古样本、冶金工件、工具嵌件和图案化晶片。

欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多xrd晶粒尺寸检测~

xrd晶粒尺寸检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，xrd晶粒尺寸检测分析，以及行业应用技术开发。

指标化的过程是：对衍射谱寻峰或者拟合后，选择菜单命令“---pattern indexing”，贵州xrd晶粒尺寸检测，出现指标化的对话框，然后，单击go工具，会出现一个“待选结构”列表。后从列表中选择出一种正确的结构。

例如，al合金的高温衍射，原子受热影响，晶胞膨胀较大，使实测峰与pdf卡片衍射线位置相差较大，无法直接精修，必须先做指数标定。指数标定后会显示一个可能的指标化结果的列表，xrd晶粒尺寸检测实验室，当选择某一行时，会在主窗口显示该组指标对应的峰。注意观察选定的结构与实测谱是否一致。选择正确的指标化结果后就可进行结构精修，并能得到满意的结果。

总之，jade的功能非常---，界面友好，容易上手。但在使用过程中要注意方法和技巧，才能得到满意的分析结果。

欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多xrd晶粒尺寸检测~