xrd残余应力检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
x射线衍射的方向体现在xrd谱的横坐标,x射线衍射强度记录在xrd谱的峰强,解析xrd谱可以获得晶体结构、晶相晶系等的信息。
对无机材料测试研究、金属材料、纳米材料、超导材料、高分子材料等等应用领域都有---的应用。
x射线衍射对无机材料、金属的分析,常作的就是对材料的物相的定性分析,把对材料测得的点阵平面间距及衍射强度与标准物质物相的衍射数据相比较,确定材料中存在的物相是什么物相?晶体结构是属于立方晶体、四方晶体、六方晶体、三方晶体、正交晶体、三斜晶系、单斜晶系的那一种?空间点阵是14种空间点阵中的哪一种?
再进一步的就是进行x射线衍射物相定量分析,根据衍射花样的强度,确定材料中各物相的含量,作出含量比例的计算判断。
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原位xrd的测试可以在短时间内得到大量可对比信息,由于原位测试的整个过程是对同一个材料的同一个位置的测试,因此得到的信息(无论是晶胞参数还是峰强度,xrd残余应力检测分析,还是其他的参数)都是具有相对可比性的。
而非原位xrd得到的信息相对可比性较差且对测试过程中的操作要求较高,比如,极片拆卸洗涤后如果极片处于褶皱状态,材料测试的会产生高低变化,测到的xrd的峰会发生偏移,相应的精修得到的晶胞参数也会有所变化;而不同极片活性材料和分布必然存在不同,这也必然导致不同充放电状态下的峰强可比性是比较差的。
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rir的取值问题
rir即当物相含量与标准物相含量相等时,两相的强度之比。由于pdf卡片数量逐年递增,因此,多数物相都可以通过pdf查到rir值。但是,在实际操作中存在一些问题:
同一物相有多张pdf卡片与之对应,而且rir值不同
例如,山东xrd残余应力检测,mgzn2这种物相就有多张卡片与之对应,它们的结构相同,但是,rir值略有不同,如何正确地选择合适的rir值是定量计算的关键问题。一般来说,虽然有多张pdf卡片与被测相相对应,xrd残余应力检测机构,但实际上在衍射峰位置和衍射强度匹配上存在较小的差别,因此,应当选择与实测物相较为吻合的pdf卡片,---是选择衍射强度匹配尽可能一致的卡片数据。
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