天津algan材料xrd检测-半导体薄膜测试机构

algan材料xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，algan材料xrd检测服务，以及行业应用技术开发。

rir的取值问题

rir即当物相含量与标准物相含量相等时，两相的强度之比。由于pdf卡片数量逐年递增，algan材料xrd检测机构，因此，多数物相都可以通过pdf查到rir值。但是，在实际操作中存在一些问题：

同一物相有多张pdf卡片与之对应，而且rir值不同

例如，mgzn2这种物相就有多张卡片与之对应，它们的结构相同，天津algan材料xrd检测，但是，algan材料xrd检测，rir值略有不同，如何正确地选择合适的rir值是定量计算的关键问题。一般来说，虽然有多张pdf卡片与被测相相对应，但实际上在衍射峰位置和衍射强度匹配上存在较小的差别，因此，应当选择与实测物相较为吻合的pdf卡片，---是选择衍射强度匹配尽可能一致的卡片数据。

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x射线衍射仪(xrd)相关术语解释

防散射狭缝测角仪上用来防止一些附加散射（如各狭缝光阑边缘的散射，光路上其它金属附件的散射）进入检测器，有助于减低背景。防散射狭缝是光路中的辅助狭缝，它能---由于不同原因产生的附加散射进入检测器。例如光路中空气的散射、狭缝边缘的散射、样品框的散射等等。此狭缝如果选用得当，可以得到低的背底，而衍射线强度的降低不超过2％。如果衍射线强度损失太多，则应改较宽的防散射狭缝。

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