单晶xrd检测分析-河南单晶xrd检测-半导体xrd薄膜测试

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应力测量要注意的问题

●常规的x射线应力测试，只是对无粗晶和无织构的材料才有效，否则会给测试工作带来一定难度。

●对于非理想组织结构的材料，必须采用特殊的方法或手段来进行测试，但某些问题迄今未获得较为---的解决。

●如果晶粒粗大，各晶面族对应的德拜环则不连续，当探测器横扫过各个衍射环时，所测得衍射强度或大或小，衍射峰强度波动很大，依据这些衍射峰测得的应力值是不准确的。

●为使德拜环连续，获得满意的衍射峰形，必须增加参与衍射的晶粒数目。

●为此，对粗晶材料一般采用回摆法进行应力测量。目前的大多数衍射仪或应力仪，都具备回摆法的功能。

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xrd图谱显示石墨样品显示出两个主要衍射峰（2θ=26.36和44.32?)，单晶xrd检测服务， 晶格间距分别为3.38?和2.04?。对于pan硬质碳样品，还观察到两个主要的宽而---的xrd衍射峰，表明pan硬质碳具有低结晶度的无定形结构。随着炭化温度的升高，衍射峰向小角度移动。对于碳化温度为1050℃样品，在24.78和43.29处的衍射峰观察到晶格间距分别为3.59 ?和2.09?。与石墨相比，pan硬碳的衍射角较小，相应的层间距较大，层间距相较于石墨变宽，为嵌入和去除锂离子提供了宽敞的通道。将所得pan硬质碳用作锂离子电池的负极材料，其初始容量为343.5 mah g?1，与石墨电极（348.6 mah g–1）的初始容量相等，初始库仑效率比石墨电---。并且pan硬碳电极在不同电流速率下表现出优异的循环稳定性和倍率性能。

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