半导体xrd测试电话-湖南xrd晶粒尺寸检测

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xrd全称x射线衍射(x-raydiffraction)，利用x射线在晶体中的衍射现象来获得衍射后x射线信号特征，经过处理得到衍射图谱。利用谱图信息不仅可以实现常规显微镜的确定物相，并拥有“眼”来看晶体内部是否存在缺陷（位错）和晶格缺陷等。微区衍射（也称为射线微区衍射、微区x射线衍射或 uxrd)分析使用非常窄的光束来进行区域内的高度局部化xrd测量。这可以使用能减少射出×射线的入射光束准直器来实现。使用单毛细管可以产生直径约为50 um 的入射x射线束。微区衍射技术通常用于具有不同组成、晶格应变或优选取向微晶的小样品或非均质样品。

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rir的取值问题

rir即当物相含量与标准物相含量相等时，两相的强度之比。由于pdf卡片数量逐年递增，因此，xrd晶粒尺寸检测多少钱，多数物相都可以通过pdf查到rir值。但是，在实际操作中存在一些问题：

同一物相有多张pdf卡片与之对应，而且rir值不同

例如，mgzn2这种物相就有多张卡片与之对应，它们的结构相同，但是，rir值略有不同，如何正确地选择合适的rir值是定量计算的关键问题。一般来说，虽然有多张pdf卡片与被测相相对应，但实际上在衍射峰位置和衍射强度匹配上存在较小的差别，湖南xrd晶粒尺寸检测，因此，应当选择与实测物相较为吻合的pdf卡片，---是选择衍射强度匹配尽可能一致的卡片数据。

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