重庆xrd晶粒尺寸检测-半导体单晶xrd---

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    2023-7-9

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xrd图谱中某个衍射峰的峰高、峰宽和峰面积分别表示什么


首先要区别是什么物质的xrd图谱,比如单晶、多晶(粉末)等.

峰高:对多晶来说,峰高由同方向排列的晶面分布数量(texture)决定,即:若所有晶粒为同方向排列,则此时各个晶面的峰高要大于无规律排列的晶粒. 而同一图谱中不同峰高则是由每个峰对应的晶面数量决定.

另外,如果样品不为纯晶体,xrd晶粒尺寸检测费用多少,而同时存在非晶体的情况下,不同xrd图像同一位置角度对应的 峰高不同则反映了晶体成分的多少. 晶体化程度越高,相应的峰越高.

峰宽:一般分析多的数值是fwhm(半峰全宽). 峰宽受很多因素影响:从仪器角度说,因素为所用x射线的波长分布,即使是单色x射线也不完全只有确定波长; 从多晶样品角度说,fwhm和晶粒大小成反比,即,重庆xrd晶粒尺寸检测,晶粒直径越小对应的fwhm越大, 具体计算可以参考scherrer equation.

峰面积:也称为integral intensity. 这个值同样不是由某单一值决定,和样品本身相关的量有:该峰对应晶面的数量,晶胞体积,晶粒体积,structure factor等.

以上只是粗略说明,具体情况还是需要具体分析.




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应力测量要注意的问题


●材料中织构,主要影响应力测试2θ与sin2ψ的线---,影响机制有两种观点:一种观点认为,2θ与sin2ψ的非线性,是由于在形成织构过程中的不均匀塑性变形所致;另一观点则认为,这种非线性与材料中各向---有关,不同方位即ψ角的同族晶---有不同的应力常数k值,从而影响到2θ与sin2ψ 的线---。

●由于理论认识上的局限,使得织构材料x射线应力测试技术一直未获得重大突破。

●目前没有先决条件并具有一定实用意义的方法是,测试高指数的衍射晶面。

●选择高指数晶面,增加了所采集晶粒群的晶粒数目,从而增加了平均化的作用,削弱了择优取向的影响。

●这种方法的缺点是,对于钢材必须采用波长很短的mo-kα线,而且要滤去多余的荧光辐射,所获得的衍射峰强度不---。

●采用单晶应力测试技术,也是解决织构应力测定的有效方法。



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由pf和go制备的复合材料,go含量分别为2wt%、10 wt%、30wt%和50wt%,分别表示为pf/g-2、pf/g-10、pf/g-30和pf/g-50。所有样品进行x射线衍射(xrd)图谱测试。实验结果纯pf在23°附近表现出宽峰,石墨烯在26°处表现出峰。通过分析石墨烯的002衍射峰,当pf的重量比增---,d002的值略有增加。pf/g-30的d002值为0.344nm,略大于天然石墨的d002(0.335nm)。其中恒流充放电测试数据表明复合电极在20ma g-1的电流密度下显示出302mah g-1的大可逆容量,在100ma g-1下显示出231mah g-2的容量。经过200次循环后,复合阳极的容量保持率几乎为99%,进一步证实了这种新型材料在储锂方面的优势。

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