xrd薄膜检测xrd残余应力检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
同倾固定ψ0法
每次探测扫描接收反射x射线的过程中,入射角ψ0保持不变选择一系列不同的入射线与试样表面法线之夹角ψ0来进行应力测试工作。
ψ与ψ0之间关系为:
ψ=ψ0+η
η=90°﹣θ
同倾固定ψ0法的ψ0角设置要受到下列---:
ψ0+2η< 90°
*** ψ0<2θ-90°
2η< 90°***2θ>; 90°
同倾固定法
在每次扫描过程中衍射面法线固定在特定ψ角方向上,即保持ψ不变
测试时x=管与探测器等速相向(或相反)而行,每个接收反射x=时刻,相当于固定晶面法线的入射角与反射角相等。通过选择一系列衍射晶面法线与试样表面法线之间夹角ψ,来进行应力测试工作。同倾固定ψ法的ψ角设置要受到下列条件---
ψ+η< 90°***ψ<0
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1、简介
x射线测试技术广泛用于各种薄膜材料的表征。薄膜材料不同于普通的粉末xrd表征,存在一定的---和薄膜的特性。例如,当薄膜具有---的择优取向时,湖北xrd薄膜检测,只有特定晶面的衍射能被观察到,这也是为什么薄膜的测试表征比普通粉末表征难的原因。本文将综述x射线衍射技术用于薄膜的测试。
2、为什么薄膜材料要使用x射线来表征?
2.1、x射线分析的特点
随着---薄膜材料制备技术的发展,用于表征薄膜材料的分析技术的水平和内容变得复杂和多样化。这其中x射线用于表征薄膜的技术有很大的发展。
利用x射线来表征材料有很长的历史。在对材料的晶体结构进行测试方面,x射线衍射技术是非常成功的。和电子束衍射相比,x射线衍射方法有以下特点:
l 非破坏性的,并且无需---的制样方法。
l 能够在特殊环境和常规环境下进行测试,例如高温高压下测试。
l 能够获得材料的平均结构信息,测试范围较广从nm级到cm级都可以表征。
l 对有机材料的破坏性也较低。
l 通过控制x射线的角度能够改变分析的材料的---。
l 可以表征埋层材料的界面结构。
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矿石xrd物相分析 矿石成分检测
提供物相定性分析,物相定量分析,绘制衍射图谱,极图测定,宏观应力测试,宏观应力检测,宏观应力分析,微观应力分析,xrd薄膜检测测试,微观应力检测,微观应力测试,织构分析, 晶粒度测试,xrd薄膜检测分析,点阵常数测定i,点阵常数测试,点阵常数检测,晶体取向分析,残余应力测试,残余应力分析,残余应力检测。
样品数量 : 300g以上。
检测时间 : 5-7个工作日。
检测费用 : 800元。
检测--- : cma---。
检测金属矿包括:黑钨矿、铜矿石、钒钛磁铁矿、钨矿石、滑石矿、银矿石、矿石、铋矿石、原矿石、黑铁矿石、磷矿石、钙矿石、---矿石、铝矿石、钼矿石检测、锰矿石、矿石、铝土矿、锌矿石、钛矿石、晶体矿石、镍矿石、铬铁矿、锑矿石、铅矿石、锡矿石、铁矿石、钴矿石、钛铁矿、异极矿、钨华、白钨矿、硫矿、钻石矿、---矿石、---锌、铋精矿、锰矿、硅酸锌、黝锡矿、磷氯铅矿、锡精矿、磷矿、铅精矿、硅矿石、钼酸铅矿、锑精矿、铜精矿、等检测。
检测非金属矿包括:毒重石、石墨、石英、金刚石、长石、伊利石、钠硝石、氟石矿、花岗岩、蓝晶石、硅藻土、金红石、云母粉、白云岩、蛭石、海泡石、镁盐、磷矿、石棉、钾盐、硼矿、辉长岩、累托石、方解石、冰晶石矿、耐火粘土、硫铁矿、自然硫、云母、叶蜡石、天然碱、膨润土、蓝石棉、凹凸棒石、陶瓷土、i冰洲石、岩石、夕线石、硅灰石、高岭土、红柱石、水晶、岩盐、滑石、菱镁矿、天然石英砂、石榴子石、透闪石、石英砂、芒硝、石英岩、玛瑙、岩矿、滑石粉、石灰岩、锗石、电气石粉、脉石英、沸石、透辉石等检测。
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