半导体xrd研究所-山西xrd物相分析检测_广州其他分类

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xrd物相分析检测xrd残余应力检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

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有色金属矿石哪里可以做成分检测？

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对于有色冶炼企业来说，原料成分的稳定性---，它会对几乎所有工序的生产稳定性产生影响，因此，在预均化堆场、原料磨配料控制等工艺中，矿石成分的分析是的，目前大多数生产企业采用人工取样+实验室分析的方案，在取样、制样和分析过程中会耗费大量的人力物力，而且会带来分析时效滞后和人为误差影响两大难题，很难发挥调整生产的作用。

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x射线衍射分析( x-raydiffraction ，简称xrd )，是利用晶体形成的x射线衍射，对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。

仪器技术参数

小角衍小角可以达到0.4度，主要测介孔材料和其他高分子复合材料。广角衍射:低角度可以达到5度，可以接收到小于10度的衍射峰。

(1 )测量精度:角度重现性+0.0001° ;测角仪半径***200mm ，测角圆直径可连续变

(2)小步长0.0001°;角度范围(20):-110~168°;温度范围:室温~900°c;

(3)大输出: 3kw ;稳定性: +0.01% ;管电压: 20~ 60kv(1kv/1step) ;管电流: 10~ 60ma。

送样要求

固体粉末:均均干燥，xrd物相分析检测费用多少，粒度小于70um (过200目) ，质不少于100mg ;块体、金属及薄膜样品:需加工出一平整的表面，xrd物相分析检测，尺寸约为20mmx 10mmx 2mm

应用领域

物相分析，可以对物质的组成及物相进行表征分析.定性、定量分析，通过精修可对物质的各组分进行的定量分析。

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如何在origin上标记xrd图上的星号

1、选中卡片，然后双击-->;弹出的文本框即为标准卡片信息，从中可以看到晶面间距d，晶面指数（hkl）以及标准衍射峰位2 theta等信息-->;选中export，可以将标准卡片中的信息导出为txt文件。

2、从txt中找到标准谱图所需要的信息：2 theta和i(f)值，然后将其copy到origin里面，设置2theta 为x轴数据，i(f)为y轴数据，如图2所示

3、选中a(x1)和b(y1)做折线图，并对谱图进行优化（线粗细：3.0，类型：b-spline; 坐标轴线粗细：3.0，字体大小：28），得到zno的xrd谱图

4、---菜单栏中graph-->;new layer(axe) -->;(linked) top x + right y，添加新图层。然后右键---“图层2”-->; layer content，将d(y2)添加为layer content

5、双击图层2中所出现的折线图，在弹出的plot o details菜单中，将plot type改为 scatter; ---右侧菜单中drop lines选项，勾选vertical，山西xrd物相分析检测，同时将线宽调整为3；再---symbol选项，将size改为0

6、调整图层2的横坐标范围，xrd物相分析检测价格，使横轴范围与图层1一致；调整图层2的纵坐标范围，让标准卡片处于适合的位置；美化谱图，然后在图中注明标准卡片的编号

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