甘肃xrd晶粒尺寸检测-半导体薄膜测试机构

xrd晶粒尺寸检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

衍射峰的强度好像和仪器有很大的关系，因为以前用 rigaku 的 dmax，每次都是几千，但现在用 bruker 或者 philips，好像每次都在一千以下，xrd晶粒尺寸检测分析，不知道是什么问题。粉末的结晶肯定是好的。

与发生器的功率有关。你曾使用的 rigaku 的 dmax 是高功率的转靶衍射仪吧？强度也和衍射仪的扫描半径有关。

用国产仪器测的 xrd 数据能不能用于 retrieve 精修?

国产衍射仪的基本技术指标（测角准确度、重现性、分辨率，衍射强度稳定性、长期工作 稳定性等指标）与进口衍射仪并无水平级的差异。配有石墨弯晶单色器的国产衍射仪，正确选择狭缝、采数步宽和步进计数时间（---峰强度），同样能够获得能够用于retrieve精修的衍射数据。

欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~xrd晶粒尺寸检测

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还有人想出另一个点子，通过“极密度”来计算原来强峰(因为存在择优取向变得不强了)应当有的强度。这个方法虽然说起来简单，xrd晶粒尺寸检测哪里可以做，但操作起来比较麻烦。实验时要采用较短波长的x射线，尽可能多地测量到物相的衍射线数。如果把计算方法编写成程序，就会变得简单一些。这不是一般科研---所要做的事情。甚至有些人连极密度是什么东西都不了解，怎么去做这个工作呢？(实在想知道，可以参考写有“织构”内容的x射线衍射教材)。办法总是人想出来的，你也可以参考相关的文献，想出自己的办法来。虽然，不管使用什么办法，都很难得到真正的结果，但总比不作任何处理要好一些。

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