重庆xrd薄膜检测-半导体xrd研究所-xrd薄膜检测价格

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    2023-3-27

王小姐
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我们为什么能利用衍射谱来做物相的含量分析呢?

其原理就是基于物相的含量w与该物相的衍射强度成正比。

可以简单地写成w=ci。w是物相的分数,i是该物相的衍射强度。c是一个系数,但不是一个常系数。不过,在一定条件下它是一个常数。---的是,这个常数通常不能通过理论计算得出,而是需要通过实验来测量。每当实验条件改变(包括样品中的物相种类的改变、任一物相含量的改变、观察峰的改变、甚至于物相产地改变、所用辐射改变、晶粒尺寸改变……如此等等,不一而足)这个系数是变化的。

围绕如何想办法得到这个系数c,历代的---和小师推导出了十几种具体的测量方法。而这些方法又是在某种环境下能使用在另一种环境下不能使用的。每种方法的不同要求等于给实验方法本身加上了一把锁,使得人们不能真正好好地、简便地利用它。



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假如我使用几种强度的表示方法来计算含量呢?

通过x射线衍射分析软件的“寻峰”功能。我们能得到衍射峰的峰高和峰面积,你不妨试试分别通过峰高和峰面积来计算物相的含量,然后再作个平均,也许会比单纯地使用峰高或峰面积来计算结果一些。你会做峰形拟合吗?

x射线衍射峰的线形总是一种“钟罩”形函数,或者说可以使用一种钟罩形函数来拟合。你可以选择不同的峰形函数来做峰的拟合,看看哪个的误差小,说明衍射峰能使用这种函数来拟合。拟合完成后,拟合函数的高度、宽度和面积就会列表出来。

这时,你又得到一组强度数据,分别用高度和面积计算物相含量,会得到怎样的结果呢?当然也可以加入到前面的两种结果中,作一个4个结果的平均。这只是我的建议,xrd薄膜检测多少钱,并非一定要这么做。当衍射峰没有重叠,没有宽化,没有变形时,4种结果没有多少差别。只有当存在这些因素时,才会出现差别。如果峰形重叠,使用拟合能将重叠峰分离开来,以消除其它物相附加的强度,单纯的寻峰是不能做到这一点的。但是,拟合时要---注意背景线的取舍,xrd薄膜检测分析,拟合得不好可能会产生很大的误差。拟合峰数据用来计算一些粘土矿物的含量时,显得尤为有意义。因为这些物相的峰形往往不对称,矮而宽,底部拖得---宽,而且多有重叠。单纯的寻峰数据使物相含量的计算结果偏小。不过,用拟合数据计算出来的又往往偏高。两者中和一下,也许与真实的结果差不离了。




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x射线衍射基本的应用就是鉴定物相。其它的应用都只有在物相鉴定完成以后才能做。那么物相是怎么鉴定出来的呢?

首先,x射线衍射方法只能证明一个物相的存在,而不能证明一个物相的不存在。

这是因为,x射线衍射强度是一个样品表面信息的统计结果。当一个物相的含量低于某一下限值(1%-10%左右,不同物相不同)时,xrd方法是不能检定一个物相的存在的。因此,重庆xrd薄膜检测,如果你还想问“我的样品中有0.3%的zr,为什么在om,tem或sem中可以看到它的存在,为什么用xrd做不出来呢?”这样的问题,说明你对xrd还不了解。

其次,并不是有了jade就能一定分析出是什么物相。

jade是一个pdf卡片的检索程序,通过给定的条件从pdf卡片库中检索出“基本上符合条件的物相卡片”。但,这些卡片可能---不是你的样品中存在的物相,因为有些物相并没有相应的pdf卡片。这时候,jade就---为力了。这时,你多可以检索出与实际物相结构相近的卡片。




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