xrd薄膜检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
如何由xrd 图谱确定所做的样品是准晶结构?xrd 图谱中非晶、准晶和晶体的结构怎么严格区分?
三者并无严格明晰的分界。
在衍射仪获得的 xrd 图谱上,如果样品是较好的晶态物质,图谱的特征是有若干或许多个一般是彼此独立的很窄的尖峰(其半高度处的2θ宽度在 0.1°~0.2°左右,xrd薄膜检测哪里可以做,这一宽度可以视为由实验条件决定的晶体衍射峰的小宽度)。如果这些峰明显地变宽,则可以判定 样品中的晶体的颗粒尺寸将小于 300nm,可以称之为微晶。晶体的 x 射线衍射理论中有一个scherrer公式:
可以根据谱线变宽的量估算晶粒在该衍射方向上的厚度。
欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~xrd薄膜检测
xrd薄膜检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
这些方法主要包括两方面: 一种是需要标样的称为“有标法”。也就是说,除了要测的样品,需要往样品中加入某种纯物质。而这些个纯物质往往是不易求得的。
比如,某人在合成一种新物质,总是发现合成物中有各种各样的杂质,他希望计算一下不同条件下这种新物质的含量。实验方法要求他提供这种新物质的纯样品。而实际情况是,他如果得到了这种新物质的纯样品也就是他合成成功的那---,他还需要你来算个什么含量呢?
再举个例子,一位包工头发现,建的房子老是倒了,地基不行。因为地基里有含量---的蒙脱土一下雨就膨胀,xrd薄膜检测价格,房子就会倒。他需要了解这种土里的蒙脱土含量到底有多少,他便可以通过改性的办法来解决问题。虽然,要得到蒙脱土的纯物质对某些人来说(一般实验室还是很难的)还是可以的,通过离心等一些方法可以得到。但是,得到的纯物质也许与原样品中的该物质结构发生某些变化。这样虽然得到了纯物质,但是,由于结构的变化,使c也变了。计算出来的结果还是不准。而且,当实验员告诉包工头,虽然我们可以做,但是一则计算结果可能不是---确。二则经费需要很多时,包工头只能摇摇头,摆摆手,说声bbyebye了。
欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~xrd薄膜检测
xrd薄膜检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,xrd薄膜检测多少钱,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
由于有标法很难用,浙江xrd薄膜检测,因此有人就着手研究“无标法”了。这些方法通过理论计算k(就是上式中c的一部分),或者按某种方法直接比强度。由于晶体结构的复杂性,理论计算c的可能性很小,目前实用的大概只有“钢中残留奥氏体的测量”(有)。直接比强度法理论是可行的。但是,也附加了很多种条件。比如,要测的样品中有两个相,需要另外提供一个也含有这样两个相(多一个或少一个都不行),含量又不同于待测样的附加样品。通过理论计算还是可以的。比如还原co粉时,通常都同时存在两种结构的co相(立方和六方)。如果刚好有一批这样的样品,就可能用这种方法来做含量计算,但是,老天保佑,千万别被氧化了,如果样品中还含有氧化钴,麻烦就来了。当然,如果,样品中含有10个相,就得至少提供这样的10个样品。想想,好不容易弄出一个样品来,还要另外去找9个相似的样品(都含有10个相同的相,而且含量不能相同),有可能吗?真不可能! 说了这些困难,也就是为了告诉你一个事实,为什么一般实验室在做物相鉴定时说得头头是道,而你想测物相含量时,他只有两个字回答你:不做!
欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~xrd薄膜检测
xrd薄膜检测哪里可以做-半导体研究所-浙江xrd薄膜检测由广东省科学院半导体研究所提供。广东省科学院半导体研究所坚持“以人为本”的企业理念,拥有一支高素质的员工队伍,力求提供---的产品和服务回馈社会,并欢迎广大新老客户光临惠顾,真诚合作、共创美好未来。半导体研究所——您可---的朋友,公司地址:广州市天河区长兴路363号,联系人:王小。
联系我们时请一定说明是在100招商网上看到的此信息,谢谢!
本文链接:https://tztz343535a1.zhaoshang100.com/zhaoshang/274218643.html
关键词: