天津xrd掠入射(gixrd)检测-半导体研究所

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    2023-3-7

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四探针测试仪是用来测量半导体材料(主要是硅单晶、锗单晶、硅片)电阻率,以及扩散层、外延层、ito导电箔膜、导电橡胶方块电阻等的测量仪器。

测量半导体电阻率方法的测量方法主要根据掺杂水平的高低,半导体材料的电阻率可能---。有多种因素会使测量这些材料的电阻率的任务复杂化,包括与材料实现---接触的问题。特殊的探头设计用于测量半导体晶片和半导体棒的电阻率。这些探头通常由诸如钨的硬质金属制成,并接地到探头。在这种情况下,天津xrd掠入射(gixrd)检测,接触电阻---,xrd掠入射(gixrd)检测多少钱,必须使用四点共线探针或四线绝缘探针。两个探针提供恒定电流,另外两个探针测量整个样品一部分的电压降。通过使用所测电阻的几何尺寸来计算电阻率。< br />;< br />;著作权归作者所有。



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做钴酸锂 xrd 衍射实验时,在 x 衍射仪上做出的衍射图片,个衍射峰---高,其他的衍 射峰---低,不成比例,是仪器本身的原因,xrd掠入射(gixrd)检测费用多少,还是发生了择优取向,请各位---指点。

不知你是用钴酸锂粉末做的实验,还是多晶膜等?如果是粉末,那可能就是择优取向了。

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如果各峰的偏移基本上是一个固定值,原因是 2θ零位不正确;样品平面后仰;组成偏离化学式,未知的偏离导致晶格变大了一些。

 用 jade5 软件可以进行 xrd 定量分析吗?

xrd定量分析的基础数据是样品中各组成物相的强度数据(原理上应该用峰的面积数据), 余下的工作便是些乘除比例的运算了,使用表格软件(如 wps ofice 的wps 表格、微软的excel)完成甚为方便。因此,使用任一能够获得峰面积或峰高的软件工具都可以进行xrd定量分析,当然,有jade 软件更为方便。






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我们为什么能利用衍射谱来做物相的含量分析呢?

其原理就是基于物相的含量w与该物相的衍射强度成正比。

可以简单地写成w=ci。w是物相的分数,i是该物相的衍射强度。c是一个系数,但不是一个常系数。不过,在一定条件下它是一个常数。---的是,这个常数通常不能通过理论计算得出,而是需要通过实验来测量。每当实验条件改变(包括样品中的物相种类的改变、任一物相含量的改变、观察峰的改变、甚至于物相产地改变、所用辐射改变、晶粒尺寸改变……如此等等,不一而足)这个系数是变化的。

围绕如何想办法得到这个系数c,历代的---和小师推导出了十几种具体的测量方法。而这些方法又是在某种环境下能使用在另一种环境下不能使用的。每种方法的不同要求等于给实验方法本身加上了一把锁,使得人们不能真正好好地、简便地利用它。



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