xrd残余应力检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，xrd残余应力检测机构，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
在进行 rietveld结构精修时，是否该对温度因子进行约束？如何约束以及约束范围？
由于温度因子是随着衍射角的增加而对强度的影响增大，所以，如果要精修温度因子，就 一定要收集高角度的数据。
fullprof精修时，biso 的值给如何设定？是否有个大概的取值范围？
biso 是温度因子，occu 是占有率。从我拟合来看，biso 与原子的位置有关系。温度因子是反映原子或离子偏离平衡位置的程度，xrd残余应力检测，因为晶胞中各原子都要做热振动的。对于立方晶系，各向同性，只修各向同性温度因子就可以了。温度因子和占有率都是影响强度的参数，所以 之间有一定的相关性。而且，温度因子对高角度峰的强度影响比较大，浙江xrd残余应力检测，所以，如果要精修温度因子，好收到高角度的数据 。
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(1)每一个物相的衍射强度，这倒不难，我们可以从衍射图上量出来。
(2)每一个物相的k值，这个k从何而来呢？ 这里的k值是这样一个定义：用某种纯物质x与α al2o3按重量比1:1混合均匀，测量两者的衍射强度之比。
这里的“衍射强度”被定义为峰的高度(不是面积)。 这个比值称为x物相的k值。这个k值只与物相结构有关，因此可以被写入pdf卡片。现在的电子版pdf卡片上有这样一个数据：i/ic(rir)=yyy。因此，我们也称为rir值，其中i是卡片所列物相的强线的峰高，而ic是刚玉(α-al2o3，corundum)强线的峰高。
我们已经给出了这个方法的标准，就是这么定义的。 这样一来，定量分析就变得如此简单！扫描一遍样品的衍射谱，从图上量出每个物相的衍射峰的峰高，再从pdf卡片上查出每个相的rir值，就可以轻松地计算出全部物相的含量来。 真的，事实上，就是这么简单。你自己就可以做。再也不必求别人！。 这就是所谓的“绝热法”。绝热的意思是不再需要标样，因为样品中每一个物相的k值都已经知道，不需要与样品外的打交道。
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在做 rietveld 精修(refinement)之前我已经的测定了晶胞参数。在精修的过程中，发现晶胞参数与先前的测定值相比较，差别很大，但整体的 r 残差因子（ r-factor）很小。如果对晶胞参数进行束缚，则整体的残差因子较大。请问我该如何处理？
如果你的 xrd 数据没有杂相峰，且提供的空间群也正确，那么应该优先选择小的 r 值的 结果。
我安装了 fullprof 软件，但打不开在理学dmax-2000 仪器上的数据文件.raw， 或.txt 文件。请问它要求的文件格式是什么吗?该怎么转化成它要求的文件格式?fullprof 和 winplotr 两个软件哪个---?
你可以用 jade 将数据转换为 fullprof 能识别的格式，xrd残余应力检测多少钱，fullprof 能识别多种数据格式，具体格式在它的说明文件里都有相应的说明。fullprof是一个可单独执行的用于晶体结构分析的程序；而 winplotr是一个用户界面程序， 我们通过它来调用 fullprof、指标化程序、键长键角计算等程序 。
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