xrd晶粒尺寸检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
如何计算出来理论衍射图(给定晶格参数和实验参数后,如何计算得到 x 射线衍射图)?
先,模拟(就是你说的计算)是要基于许多理论模型的,因为粉末衍射图样的形成要 受很多因素的影响,峰的位置、形状,峰彼此之间的影响都可以用一些模型来描述,三两句---不清楚;
第二,有大量的现成的软件可以用;
第三,如果你打算把粉末衍射的模拟作为你的研究课题,你应该多看一些文献和基本原理 的介绍。只要你有了晶胞参数、原子坐标,就可以用大量的现成的软件来计算出的x 射线粉末衍射图。
有单晶 x 射线衍射推算出来的晶胞参数,请问我怎么才能反推算出该晶体的粉晶衍射图?
需要原子坐标!如果你有结构数据,就可以从理论上算出粉末衍射图。例如,通过fullprof、 diamond软件工具即可以得到该晶体的粉末 xrd 图,也可以使用 materials studio 的 reflex plus 模块算出来,不用自己手工算了。
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常用的xrd分析软件有4种:
high?score?几乎search?m---h中所有的功能,highscore都具备,而且它比searchm---h更实用。
jade?和highscore相比自动检索功能少差,xrd晶粒尺寸检测价格,但它有比之更多的功能。
(1)它可以进行衍射峰的指标化。
(2)进行晶格参数的计算。
(3)根据标样对晶格参数进行校正。
(4)轻松计算峰的面积、质心。
(5)出图方便,你可以在图上进行随意的编辑。
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、变通的办法在哪里?
为了得到计算公式里的系数,有人将系数分为两部分:一部分与样品无关,也与仪器无关的常系数。另一部分则与样品及测量条件有关。弄出来一个称为“k值法”东西。
具体方法是:如果要测量样品中的x相,则先用纯的x物质与纯刚玉(α-al2o3)按重量比1:1混合均匀,测量两者的衍射强度之比,这个比值称为这个物相x的k值。然后,xrd晶粒尺寸检测服务,在要测量的样品中加入一定量的刚玉粉(分数已知),再比这个加了“标样”的样品中待测相x与刚玉的衍射强度比。就能算出x相的含量。这里的麻烦是,为了要测x相的含量,必须得到x相的纯物质。它的计算公式就是ix/is=kxwx/ws。这里的x是要测量含量的物相,广东xrd晶粒尺寸检测,s就是称之为标样的东西,也就是刚玉。i,w分别指衍射强度和分数。
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